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簡單介紹：
日本sentec光學(xué)非接觸位移測量系統(tǒng)IFD2400,IFD2400與控制器根據(jù)傳感器被校對，能大體上要任意的長度的光纜連接著。 為此，在從控制器遠(yuǎn)方離開了的地方能使用線sa
詳情介紹：
日本sentec光學(xué)非接觸位移測量系統(tǒng)IFD2400
IFD2400，根據(jù)焦點(diǎn)光學(xué)式非接觸位移測量系統(tǒng)，位移和距離等的高精度測量變成了可能。 能測量不規(guī)則反射方面也鏡面也進(jìn)行。 能進(jìn)行是東名并列的情況，測量距離之外又加上，從一側(cè)厚的測量。 同時，因為發(fā)光部和受光部同樣軸上配置，能避開影子的發(fā)生。
又，IFD2400與控制器根據(jù)傳感器被校對，能大體上要任意的長度的光纜連接著。 為此，在從控制器遠(yuǎn)方離開了的地方能使用線sa。
IFD2400，根據(jù)焦點(diǎn)光學(xué)式非接觸位移測量系統(tǒng)，位移和距離等的高精度測量變成了可能。 能測量不規(guī)則反射方面也鏡面也進(jìn)行。 能進(jìn)行是東名并列的情況，測量距離之外又加上，從一側(cè)厚的測量。 同時，因為發(fā)光部和受光部同樣軸上配置，能避開影子的發(fā)生。
又，IFD2400與控制器根據(jù)傳感器被校對，能大體上要任意的長度的光纜連接著。 為此，在從控制器遠(yuǎn)方離開了的地方能使用線sa。
共焦點(diǎn)光學(xué)式非接觸変位測定システム | ||
IFD2400 | ||
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IFD2400は、共焦點(diǎn)光學(xué)式非接觸変位測定システムにより、変位や距離などの高精度測定が可能となりました。 測定は亂反射面でも鏡面でも行うことが出來ます。 東名タイの場合は、測定距離に加えて、片側(cè)から厚さの測定を行うことが出來ます。 また、発光部と受光部が同一軸上に配置されているため、影の発生を避けることができます。
